Princípios básicos de XAS e XPS - Ribeiro, Emerson Schwingel; Francisco, Maria Suzana P.; Gushikem, Yoshitaka; Gonçalves, José Eduardo (Revista Chemkeys, 2018)
Os princípios básicos das espectroscopias de absorção e fotoeletrônica de raios-X (XAS e XPS) e seus principais equipamentos e métodos de tratamento de dados utilizados são introduzidos. É dada ênfase aos estudos das propriedades eletrônica e estrutural de materiais inorgânicos descrevendo alguns exemplos da literatura. Essas técnicas fornecem diferentes informações. A XPS permite a investigação da superfície, sendo principalmente usada na investigação de mudanças química e estrutural dos elementos presentes na superfície do material estudado. Por outro lado, a XAS fornece informações do volume (bulk) da amostra e sonda a ordem a curto alcance ao redor do átomo de interesse. Os exemplos descritos mostram que essas técnicas são complementares na caracterização de materiais.