Um estudo realizado em filmes finos amorfos de v2 o5 e fevo4 utilizando luz síncrotron

Resumo

O objetivo deste trabalho foi realizar um estudo utilizando Luz Sincrotron em filmes amorfos de V2 O5 e FeVO4 submetidos à inserção de íons Li+ . Utilizamos a técnica de análise por Espectroscopia de Absorção de Raios-X (XAS) com o objetivo de entender qual a correlação entre os mecanismos de inserção e remoção dos íons de lítio no material com a estrutura e o estado de oxidação dos átomos de vanádio e ferro presentes no composto. Foram preparadas amostras de filmes de FeVO4 , e por comparação com amostras de V2 O5 , foi realizado um estudo do comportamento do estado de oxidação dos átomos de V e de Fe em amostras nas condições “como depositadas” e quando submetidas à intercalação e deintercalação de Li. Como conclusão foi observado que tanto no V2 O5 quanto no FeVO4 , o átomo de V reduz de um estado V(V) para V(IV) no composto intercalado de Li. O átomo de Fe em FeVO4 reduz de um estado Fe(III) para Fe(II) quando intercalado de Li+ . Não houve maior redução de estados devido ao baixo grau de intercalação das nossas amostras. Sugerimos também que as pequenas mudanças observadas nos pré-picos das amostras FeVO4 comparativamente às amostras de V2 O5 , devem explicar a boa estabilidade estrutural e conseqüentemente eletroquímica do FeVO4 .