Geração de pentes espectrais Kerr por microcavidades ópticas recobertas por Al2O3 e Ti2O

Abstract

Nesse projeto estudou-se óptica não-linear aplicada a microcavidades ópticas, deposição de filmes finos por Atomic Layer Deposition (ALD) e caracterização do espectro de transmissão das microcavidades. Em especial, na cavidade do tipo microesfera, que permite solução analítica dos modos ressonantes. O modelo analítico aliado à teoria de óptica não-linear fornece a relação de dispersão da velocidade de grupo (GVD), aplicada na caracterização dos espectros. Experimentalmente, foram desenvolvidas e caracterizadas receitas de deposição de alumina (Al2O3), os filmes depositados apresentam baixísima rugosidade média e podem ser aplicadas a microcavidades de sílica de diversas geometrias.